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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究

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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究

作者:潘二,刘富才著
出版社:电子科技大学出版社
ISBN:9787577019444
出版年:2026/2/1

10(已有人评分)

基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究 简介
本书内容涵盖二维材料的制备与器件构筑、原子力显微镜及其衍生技术的应用、极化分布与畴结构的精细表征、界面耦合机制的物理解析等多个方面,形成了滑移铁电研究的系统性认识。本书不仅有助于加深对滑移铁电材料基本物理图像的理解,也为相关实验方法的构建与器件性能的提升提供了理论与技术指导。

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