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短波红外InGaAs探测器辐照特性研究 简介
本书围绕短波红外InGaAs探测器的航天遥感应用,采用微波反射法提取了InGaAs吸收层的少子寿命,研究了不同钝化方法的短波红外InGaAs探测器的低频噪声,并利用g-r噪声的温度特性提取了PECVD钝化器件的缺陷能级,为短波红外InGaAs探测器在太空质子、电子和γ射线等辐照下正常工作提供保障。
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