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X射线检测关键技术与应用研究

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X射线检测关键技术与应用研究

作者:方正 编著
出版社:厦门大学出版社
ISBN:978-7-5615-8068-4
出版年:2021

10(已有人评分)

X射线检测关键技术与应用研究 简介
本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始,介绍了X射线检测的物理学基础。对射线检测各种方法进行了较为全面的描述,包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等,还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。通读全书能系统地了解该领域的基础理论,把握良好的知识体系框架,有利于读者客观全面地分析和解决实际问题。

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