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互换性与技术测量基础

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互换性与技术测量基础

作者:王莉静 主编
出版社:华中科技大学出版社
ISBN:978-7-5680-5976-3
出版年:2020

10(已有人评分)

互换性与技术测量基础 简介
本书分为9章,主要包括我国公差与配合方面的最新标准,阐述了技术测量的基本原理,主要包括绪论,测量技术基础,极限与配合,几何公差,表面粗糙度及其评定,光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计,常用典型件的互换性,圆柱齿轮公差与检测,尺寸链计算。

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