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纳米体硅CMOS工艺逻辑电路单粒子效应研究 简介
本书研究了纳米体硅CMOS工艺逻辑电路中单粒子效应的产生与传播受电路工作电压、频率和版图结构等电路内在因素，以及温度和总剂量两种空间环境变量的影响规律及其机理。并列题名： Study of single-event effects of logic circuits in nanometer bulk CMOS process eng
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