本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括：电子、介子、中子和重离子等，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。书中对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。分集：集成电路辐射效应与加固技术并列题名：Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems eng