当前位置：首页 > 科技 - 主动红外微电子封装缺陷检测技术 pdf电子版图书
主动红外微电子封装缺陷检测技术 简介
本书将主动红外无损检测技术应用于微电子封装领域，结合有限元仿真对焊球热性能及缺陷检测进行了研究和分析，提出了一种基于主动红外热成像的封装缺陷检测方法，详细讲述了热图像信号的解析方法，并结合实验检测结果，对主动红外微电子封装缺陷检测技术进行深入的阐述，为高密度微电子封装的可靠性评估提供了一种快速、有效的方法。并列题名： Active infrared technology for defect inspection of microelectronics packaging eng
主动红外微电子封装缺陷检测技术 电子版图书下载地址：
本书有电子版，如无法下载 请加我们Q群 766799536 联系索取
温馨提示：
关于我们 - 网站帮助 - 版权声明 - 友情连接 - 网站地图
本站所收录作品、社区话题、书库评论及本站所做之广告均属其个人行为，与本站立场无关
本站所有的作品，图书，资料均为网友更新，如果侵犯了您的权利，请与本站联系，本站将立刻删除(E-MAIL：847151540@qq.com)
Copyright © 2005-2016 www.gbook.cc All Rights Reserved.备案号