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单板级JTAG测试技术 简介
本书是一本系统论述单板级JTAC测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量; 内建自测试和仿真测试; 基于IEEE1687标准额集成电路测试技术发展趋势。
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